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賽可(SEC)超高分辨率臺式掃描電鏡簡介:
2023年SEC推出全新一代超高分辨率臺式掃描電鏡SNE-Alpha,大大提高操作便利性,提高測試效率!
賽可(SEC)超高分辨率臺式掃描電鏡特點:
更加人性化的新一代操作軟件,任何人都能輕松操作,無需專業測試人員。并提供豐富的擴展功能:顆粒物自動分析,3D粗糙度分析,超大視野拼圖軟件。超快的真空抽速,減少等待的煩惱,提高測試效率。小巧而精致的設計,可在狹窄的空間內安裝使用。
1)5nmResolution250,000xMagnification:
同級別最高性能的StageNavigation功能
優于5um的高精密navigation移動,可迅速位移
同級別不二標配全自動5軸樣品臺
搭載全新的第三代操作軟件
任何人均可簡單操作
強大的自動功能
超快的真空系統
Vacuum90sec,Venting15sec
同級別最快的真空系統
豐富的擴展功能
3D粗糙度分析,超大視野拼圖軟件
顆粒物粒物自動分析(Particleanalysis)
CompactDesign!更強大的性能!
與現有型號相比,Dimension減少了40%
300(W)x465(D)x600(H)
強化用戶便利功能
自動獲取Navigation圖像
關閉樣品倉的同時開始自動抽真空
2)HIGH-PERFORMANCEHARDWARE
最高放大倍率25萬倍,5nmResolution,實現同級別最高放大倍率及超高分辨率,通過全新的高精密電子光學系統,獲取高質量圖像。
3)五軸全自動樣品臺
優于5um的高精密全自動樣品臺,實現迅速位移并精準的找到樣品位置
小巧而精致的設計,進一步提高空間使用率
-與現款相比,Dimension減少40%
-小巧緊湊,可在狹窄的空間內安裝使用
-300(W)x465(D)x600(H)
NEW第三代Nano-eye
全新的操作軟件,提高用戶體驗
注重人性化的操作界面,操作更加便捷,在短時間內輕松獲取高質量圖像
強大的自動功能
*的AutoFocus功能,可快速獲取高質量圖像
超大視野拼圖功能:
超大視野給用戶帶來更直觀的觀測體驗,通過超大視野拼圖功能,觀測樣品全貌,得到大范圍的高分辨率圖像
所需區域后無需人員操作,軟件開始自動區域掃描,并將圖像拼成全景圖像,方便觀測并提高效率。
3D粗糙度分析
通過四分割BSE探測器,重構3D立體圖像,簡單快速的分析表面粗糙度
EDS(EnergyDispersiveX-raySpectrometer)是一種安裝在SEM(電子顯微鏡)上的分析樣品表面成分的裝置。
利用掃描電鏡的電子束作用在待分析樣品上,接收不同元素在電子束作用后所產生的特征X射線信號進行定性和定量分析。
Features:
硅漂移探測器(SDD)
30mm2有效面積
超輕元素窗口,元素探測范圍B(5)~Cf(98),
能量分辨率MnKα≤129eV
帕爾貼制冷,無需液氮或其他冷卻劑
簡便的操作軟件,快速實現對材料的微區化學成分分析
主要功能:定性·定量分析,MappingLineScan,Report等
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型號:SNE-Alpha
型號:SNE-Alpha
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