產(chǎn)品展示NEWS CENTER
在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展首頁-產(chǎn)品展示--X-Ray檢測(cè)設(shè)備-賽可(SEC)X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series
更新時(shí)間:2024-08-23
產(chǎn)品型號(hào):
簡(jiǎn)要描述:賽可(SEC)X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series廣泛應(yīng)用于要求檢測(cè)Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging(WLP)領(lǐng)域里。
企業(yè)實(shí)力
Enterprise Strength有效保修
Valid Warranty質(zhì)量保障
Quality Assurance產(chǎn)品中心
PRODUCT CATEGORY相關(guān)文章
RELATED ARTICLES詳細(xì)介紹
賽可(SEC)X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series簡(jiǎn)介:
該檢測(cè)設(shè)備搭載200納米的Nano-focus Tube,廣泛應(yīng)用于要求檢測(cè)Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging(WLP)領(lǐng)域里。通過大理石平臺(tái)和各個(gè)高精度驅(qū)動(dòng)軸,可以更加精準(zhǔn)的找到不良部位并且正確的分析不良問題。添加3D CT模塊可進(jìn)行斷層分析,通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動(dòng)裝卸Waffer,自動(dòng)檢測(cè),實(shí)現(xiàn)Full Auto全自動(dòng)檢測(cè)的設(shè)備。
賽可(SEC)X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series特點(diǎn):
產(chǎn)品咨詢
相關(guān)產(chǎn)品
快速導(dǎo)航
產(chǎn)品系列
產(chǎn)品推薦
Copyright©2024 上海賽可檢測(cè)設(shè)備有限公司版權(quán)所有 All Rights Reserved 備案號(hào):滬ICP備2021013369號(hào)-2
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml