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首頁-產(chǎn)品展示--X-Ray檢測(cè)設(shè)備-賽可(SEC)X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series

賽可(SEC)X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series

更新時(shí)間:2024-08-23

產(chǎn)品型號(hào):

簡(jiǎn)要描述:賽可(SEC)X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series廣泛應(yīng)用于要求檢測(cè)Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging(WLP)領(lǐng)域里。

  • 企業(yè)實(shí)力

    Enterprise Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質(zhì)量保障

    Quality Assurance

詳細(xì)介紹

賽可(SEC)X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series簡(jiǎn)介:

該檢測(cè)設(shè)備搭載200納米的Nano-focus Tube,廣泛應(yīng)用于要求檢測(cè)Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging(WLP)領(lǐng)域里。通過大理石平臺(tái)和各個(gè)高精度驅(qū)動(dòng)軸,可以更加精準(zhǔn)的找到不良部位并且正確的分析不良問題。添加3D CT模塊可進(jìn)行斷層分析,通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動(dòng)裝卸Waffer,自動(dòng)檢測(cè),實(shí)現(xiàn)Full Auto全自動(dòng)檢測(cè)的設(shè)備。


賽可(SEC)X-RAY檢測(cè)設(shè)備X-eye NF120 Series特點(diǎn):

1.搭載自主研發(fā)生產(chǎn)的200nm級(jí)別開管式光管(Focal spot size Nano-focus open tube)
2.Wafer level工藝中,對(duì)TSV,Micro-bump,Cu pilar等產(chǎn)生的超細(xì)微不良進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)的優(yōu)秀選擇
3.SEC*的3D CT用Auto Collimation 及 Filtering技術(shù)實(shí)現(xiàn)X-ray damage free(無損檢測(cè))
4.安全檢測(cè)存儲(chǔ)半導(dǎo)體芯片
5.可同時(shí)兼容2D,3D自動(dòng)檢測(cè)

   

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