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首頁-產品展示-SEM臺式掃描電鏡-SNE-4500M Plus-SNE-4500M Plus賽可高分辨率(5nm)臺式電鏡

賽可高分辨率(5nm)臺式電鏡

更新時間:2024-08-23

產品型號:SNE-4500M Plus

簡要描述:賽可高分辨率(5nm)臺式電鏡:賽可(SEC)SNE-4500M Plus臺式掃描電鏡是一款一款高性能,高配置的產品。

  • 企業實力

    Enterprise Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質量保障

    Quality Assurance

詳細介紹

賽可高分辨率(5nm)臺式電鏡簡介:

SNE-4500M Plus是一款高性能,高配置的產品。


賽可高分辨率(5nm)臺式電鏡主要特點:

1.Option: 冷臺(可達到-20°C):

搭載冷臺防止含水樣品的脫水,維持樣品原貌,實現長時間對含水樣品的觀察和分析。


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2.高性能臺式掃描電子顯微鏡:

SEC臺式電鏡最大放大倍率(底片放大倍率)為15萬倍, 可實現分辨率5nm@30kV(SE), 為目前同類臺式電鏡中最高分辨率。
寬泛的加速電壓范圍(1KV-30KV), 適合各種樣品的形貌觀察及元素分析,適用范圍廣。


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1)配置頂部CCD相機 :具備彩色光學圖像導航功能,1:1彩色照片導航,便于尋找樣品,使操作變得更簡單。

2)5軸全自動樣品臺 Recipe Function:實現X、Y、Z、R(旋轉)和T(傾斜)五軸的自動移動,有利于多角度精細地觀察樣品。-45°~90°大范圍的傾斜角度,可以在不更換特定樣品臺的情況下直接進行截面觀察。

3)Recipe Function:可保存6個觀察位置的坐標信息,并可同時記錄當時的觀察條件,以便用戶對有價值的區域進行二次觀察和分析。


3.EDS System:

EDS(Energy Dispersive X-ray Spectrometer)是一種安裝在SEM(電子顯微鏡)上的分析樣品表面成分的裝置。

利用掃描電鏡的電子束作用在待分析樣品上,接收不同元素在電子束作用后所產生的特征X射線信號進行定性和定量分析。

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4.Ion Sputter Coater:

對樣品表面進行鍍膜(Au/Pt),提高成像效果的制樣儀器。在樣品表面覆蓋一層導電的金屬薄膜,有效消除荷電反應及電子束對樣品表面的熱量損傷,并提高所需要的二次電子信號量。使非導電樣品的成像效果更加清晰。


*靶材:Au(黃金)or Pt (鉑金)

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